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Pre IC-H型預處理柱：所謂的樣品基體去除是指利用樣品中基體組分與樣品前處理小柱中的固定相之間的也有結(jié)合使基體中的干擾組分保留在樣品前處理小柱上，而被分析物則不被保留直接通過樣品前處理小柱，從而進行后續(xù)的分析測定。這樣就可消除樣品基體中共存組分對測定的干擾。

型號：Pre IC-H型

更新日期：2024-12-04

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